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X光測厚儀的十四個產(chǎn)品特點

發(fā)布時間: 2020-09-27  點擊次數(shù): 1362次
  X光測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。
  X光測厚儀的特點:
  1、測量通過電腦軟件進行操作,方便直觀;
  2、除平板形外,還可以測量圓形、棒形(細(xì)線)等各種形狀;
  3、可高精度測量其它方式不易測量的三層以上的鍍層;
  4、可對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理,并能輸入電腦進行共同管理;
  5、可制作非破壞式膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板;
  6、可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度;
  7、本膜厚儀采用全對話式操作。因此,只要依照測量條件來進行設(shè)定就可測量,非常簡單;
  8、由于可儲存不同的測量情況,不必進行重復(fù)設(shè)定;每種測量情況可儲存多個數(shù)據(jù);
  9、可設(shè)定四層鍍層,而每一層均可進行統(tǒng)計處理。電位圖形可通過設(shè)定光標(biāo)自動計算多層鎳電位差及每層鎳的厚度,可方便的作成各種格式的電子文檔并打印。制作測量報告易學(xué),易懂;
  10、每種鍍層所需的電解液、敏感度及攪動標(biāo)準(zhǔn)的選擇,均可由微處理器自動判斷、設(shè)定;
  11、標(biāo)準(zhǔn)板校正值的計算和設(shè)定可自動進行;
  12、由于分解速度差距分得很細(xì),因此在保證測量精度的同時可大量節(jié)省測量時間;
  13、可分離測量銅(合金)上的錫(合金)鍍層間的擴散(合金)層;
  14、測量臺是利用條形彈簧方式,使操作方便簡單。
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